日本日置 3504-40C测试仪 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 · 高速测量2ms · 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 · 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 ...

日本日置 3504-60/ 50/40C测试仪 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 · 高速测量2ms · 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ...

日本日置 3504-60/50/40C测试仪 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 · 高速测量2ms · 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 · 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能 ...

日本日置 C测试仪 3505 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 · 反复测量精度更高，最适合生产线 ...

日本日置 3506 C测试仪 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 · 反复测量精度更高，最适合生产线 · 校正维修功能，减低由环境的温度变化影响 ...

日本日置 IM3523 LCR测试仪 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 · 基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) ...

日本日置3511-50 LCR测试仪 精巧，非常专业，5ms快速测量LCR · 高速测量：5ms(1kHz)或13ms(120Hz) · 高精度： ± 0.08% ...

日本日置 3532-50 LCR测试仪 搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪 · 测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 · 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来 ...

日本日置 3535LCR测试仪 高速LCR仪，采样率可高至120MHz · 100kHz～120MHz的宽频带 · 高速LCR测试（6ms/采样） ...

日本日置 IM3533/IM3533-01 LCR测试仪 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域 · 基本精度±0.05％，测量范围广泛(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。 · 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下，不间断测试，速度比以往产品快10倍。 ...

日本日置 IM9000等效电路分析软件 简化电路分析 & 细化PASS/FAIL判定 · IM9000可以从5个标准模型中自动选定等效电路模型，将测量值和由分析结果得到的理想频率特征之间的差异最小化。 ...

日本日置 IM3570阻抗分析仪 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 · 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 · LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 ...

日本日置 SS7012直流信号源 信号发生和测量可同时进行 · 与 HIOKI 之前的产品相比较，提高了稳定性的同时降低了成本 · 用于测量设备系统 (4 - 20 mA) 和回路测试 ...

日本日置 LR5092-20通讯仪 将LR5000系列所记录的数据传输至计算机中 · 将数据记录仪中数据传输至计算机中 · 将计算机中的数据记录仪的配置或时钟设置传输至数据记录仪中 · 将采集数据记录仪中的数据至内存或SD卡（LR5092-20） ...