日本日置 3504-60/ 50/40C测试仪
日本日置 3504-60/ 50/40C测试仪
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
· 高速测量2ms
· 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
· 对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能
· 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
· 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
· 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
日本日置 3504-60/ 50/40C测试仪
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测量参数
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Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
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测量范围
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C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
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基本确度
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（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
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测量频率
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120Hz, 1kHz
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测量信号电平
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恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
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输出电阻
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5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
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显示
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发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）
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测量时间
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典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
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机能
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4端子控制检测功能（仅限3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA
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体积及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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电源线×1，预备电源保险丝×1
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