美国优特UTX650X射线荧光光谱仪

美国优特UTX650X射线荧光光谱仪

一、产品简介

UTX650是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：

五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液分析。

镀层厚度检测

五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；

PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等

塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等

合金材料分析

不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分

黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分

磷铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分

焊锡中的Sn、Pb等成分

镀液分析

电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度

二、产品特点

美国优特UTX650X射线荧光光谱仪

1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测

2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.02um到40um

3、测量时间短，每个测量只需10-60秒

4、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察

5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用

6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性

7、机械结构简单，可靠

8、FP基本算法软件

9、灵活的应用分析软件

10、仪器安装简单、快速

三、技术指标

1、产品执行标准：DIN50987、ISO3497、ASTN.D568

2、产品参数：

测定原理	能量色散型X射线荧光分析法
测定对象	固体、液体、粉状
测量功能	单镀层、合金镀层、多镀层测厚、最多可测5层；
	元素分析(材料成份分析)
	镀液分析(电镀药水主盐成份分析)
测量极限	镀层厚度：0.02um，元素分析：100ppm
厚度测量范围	0.02-40 um，(W、Au、Pb)10μm、(Cu、Zn、Ni、Cr、Sn)40um，
厚度测量误差	第一层小于±5%，第二层小于±10%，第三层小于±15%
元素分析测量范围	可测元素K19-U92，
测试时间	测厚：10-60s，元素分析：10-60s
X射线发生部分
X光管产地及品牌	美国(OXFORD)
X射线管靶材	W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选
X射线管窗口	铍窗
电气参数	50W、4-50kV，0-1000uA
冷确方式	硅脂冷却
X射线照射方式	↓X射线从上向下照
照射面积	最小的光斑φ0.1mm
使用寿命	15000-20000h
探测器
探测器产地及品牌	美国（LND）
制冷方式	电制冷(-1900C)
分辨率	Mn的半峰宽760eV
探测窗口	铍窗、窗口面积：400mm2
高压电源
高压包产地及品牌	美国(SPELLMAN)
输入电压	24VDC±10%、
输出电压	0-50kV、0-2.0mA，输出精度0.01%
备注	有自动软件侦测功能
光路系统
准直器系统	单一准直器φ0.1mm、
对焦系统	激光镭射对焦
滤光器	多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)
样品观察系统	300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。
样品室
样品室内部空间（mm）	（宽×高×深）：450×160×400mm
样品台尺寸	（宽×深）：250×275mm
样品台承载重量	≤5kg
试验样品最大尺寸	宽×高×深：440×150×390mm。
样品台控制方式	手动样品台
工作台移动技术数据	X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm
数据处理系统
控制计算机	联想品牌机M7150，1G内存，160G硬盘
显示器	联想17寸LCD显示器
报告结果	Word、PDF格式
软件	操作系统：WindowsXP、OEM简体中文版
软件	镀层测厚软件、元素分析软件
软件语言	简体中文、繁体中文、英文、其它
仪器包装参数
设备主体尺寸（mm）	宽×高×深：W580×H600×D715mm
主体重量	约60kg
使用环境
工作环境	温度15-250C，湿度40-70%RH
电源系统	单相220V±10%，工作电压在充许范围内
其它	1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置 2. 减少振动 3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体 4. 日光不能直射 5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定