日本日置 IM3570阻抗分析仪
日本日置 IM3570阻抗分析仪
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
· 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
· LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量
· 基本精度±0.08%的高精度测量
· 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
· 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
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主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
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基本参数
日本日置 IM3570阻抗分析仪
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测量模式
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LCR（LCR测量），分析仪（扫描测量），连续测量
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测量参数
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Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流电阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
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测量量程
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100mΩ~100MΩ，12档量程（所有参数由Z确定）
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显示范围
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Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[单位]~9.999999G[单位]，仅Z和Y显示绝对值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
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基本精度
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Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
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测量频率
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4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步进）
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测量信号电平
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V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步进（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步进（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步进（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步进（1.0001MHz以上）
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输出阻抗
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普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
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显示
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彩色TFT5.7英寸，可设置显示ON/OFF
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测量时间
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0.5ms（100kHz，FAST，显示OFF，代表值）
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测量速度
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FAST/MED/SLOW/SLOW2
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其他功能
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DC偏压测量，比较功能，面板读取和保存，存储功能
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接口
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EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通讯，U盘，LAN
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电源
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AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
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打印
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拷贝测量值或屏幕显示的要点（需用9442，9593-01和9446）
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接口
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GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有标准)
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电源
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AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
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体积和重量
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330W×119H×307Dmm，5.8kg
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附件
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电源线×1
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