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日本日置 C测试仪 3505

日本日置 C测试仪 3505


 

日本日置 C测试仪 3505

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

· 反复测量精度更高,最适合生产线

· 校正维修功能,减低由环境的温度变化影响

· 测量导线的过长引起的阻抗变化,阻抗补正功能

· 比测仪的设定值和测定值的同步显示

· 2ms的高速测量;1kHz,1MHz 测量

· 根据BIN的测定区分容量

· 比测仪和触发器同步输出功能

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

基本参数

日本日置 C测试仪 3505

测量参数

C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)

测量范围

C:0.000fF ~ 15.0000mF
D:0.00001 ~ 1.99999
Q:0.0 ~ 19999.9

基本确度

(代表值)C: ±0.14% rdg. D:±0.0013
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数

测量频率

3505: 1kHz, 100kHz, 1MHz, 3506: 1kHz, 1MHz

测量信号电平

500mV, 1V rms

输出电阻

1Ω (在2.2mF以上的测量范围: 1kHz;在 22nF以上的测量范围: 100kHzs), 20Ω 上述测量范围以外)

显示

LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)

测量时间

代表值: 2.0 ms (FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能

BIN 分选测量功能, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能,平均机能, Low-C抵抗机能, 震动机能,电流检测功能,输入电压检测机能,EXT I/O输入/输出, RS-232C接口, GP-IBイ接口

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大40VA

体积及重量

260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1