ICT-33D数字IC测试仪   细节说明
  
 功能特征：
适用范围
ICT33-D具有以下用途：
1． 用于维修各类电子产品，判别集成电路的好坏。
2． 用于各种智能仪器程序的复制、保存。
3． 新产品的开发、研制、调试。
4． 中小规模程序的调试。
5． EPROM、EEPROM的器件的复制、修改、组合。
6． 检验新器件的质量。
7． 破译被抹去型号集成电路的真实型号。

功能参数：
ICT33-D的测试容量
1． TTL74、54系列。
2． TTL75、55系列。
3． CMOS40、45、14系列。
4． 光耦合器系列。
5． LED显示器系列。
6． EPROM系列。
7． EEPROM系列。
8． 常用单片机系列。
9． 常用RAM系列。
10.常用微机外围电路系列。
11.其它常用电路系列。

功能综述
1． 器件好坏判别：当不知道被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
2． 器件型号判别：当不知道被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
3． 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
4． 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
5． 内部RAM数据修改：ICT33-D可从键盘对自己内部RAM中的数据进行随机修改。
6． EPROM、EEPROM器件读入：ICT33-D可将128K以内的EPROM、EEPROM器件中的数据进行读入并保存。
7． EPROM、EEPROM器件写入：ICT33-D可将内部RAM的数据写入到128K以内的EPROM、EEPROM器件中的，并自动进行校验。
8． 逻辑笔功能：
逻辑域值设定

逻辑系列 逻辑“1” 逻辑“0”
TTL/DTL 2.2V±0.1V 0.8V±0.1V
CMOS VCC×0.7 ±10% VCC×0.3±10%

信号逻辑状态图表
被测点的逻辑状态可以通过仪器面板上的四个发光二极管反映出来；HI（红色）亮为高电平；LOW（绿色）亮为低电平；BAD（黄色）亮为故障电平；PULSE（红色）亮为脉冲信号指示。
四个发光二极管（HI、LOW、BAD、LULSE）可以组合出八种不同状态，通过测试表笔的检测，了解被测点状态，为仪器设备的检修、新产品设计调试提供方便。

ICT-33D可测器件详细清单参看附录测试容量清单
可 测 器 件（1300多种）
CMOS40系列：103种。
CMOSMC140系列：103种。
CMOS45系列：60种。
CMOSMC145系列：60种。
光耦合器系列：133种。
TTL74/54系列：714种。
TTL75/55系列：82种。

数码管系列：
0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。
常用RAM系列：
2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128
EEPROM系列：
2816 2817 2864 28256 28040 29101
EPROM系列：
2716 2732 2764 27128 27256 27512
微机外围电路系列：
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC(8O2)
常用单片机系列：
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752
其他系列：
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506